МОЩНЫЕ ВЫСОКОЧАСТОТНЫЕ ТРАНЗИСТОРЫ



         

ПАРАМЕТРЫ МОЩНЫХ ВЧ ТРАНЗИСТОРОВ И МЕТОДЫ ИХ ИЗМЕРЕНИЯ - стр. 36


С другой стороны, при увеличении индуктивности возрас­тают мгновенные напряжения на коллекторе, что создает опасность выхода транзистора из строя при настройке измерительной схемы.

Для обеспечения режима смещения входной цепи транзистора в контактном устройстве имеется индуктивность (L2 на рис. 3.4). Она выбирается достаточно большой, чтобы не вызывать уменьше­ния переменного сигнала на входе транзистора. Напряжение смеще­ния UБ поступает от источника постоянного тока через делитель R1, R2. Сопротивления выбираются по возможности малыми, обычно около 1 Ом. Необходимость этого связана с детектированием сигна­ла на эмиттерном переходе, имеющем диодную характеристику. Вследствие разных прямого и обратного напряжений потенциал ба­зы уменьшается по отношению к эмиттеру при увеличении амплиту­ды сигнала, т. е. транзистор несколько подзапирается.

Таким образом, напряжение на эмиттерном переходе Uэб в ре­жиме измерений является алгебраической суммой двух величин: открывающего напряжения и запирающего, определяемого детекти­рованием. Именно эта сумма напряжений контролируется вольтмет­ром постоянного тока непосредственно после получения требуемого уровня Рвых.

3.10. ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ

ПАРАМЕТРОВ

Вопросы, связанные с общей методикой расчета погрешности измерения параметров транзисторов, до­статочно подробно освещены в литературе. В то же вре­мя погрешности измерения энергетических параметров именно мощных транзисторов нигде отдельно не рас­смотрены. В связи с этим целесообразно дать оценку возможных значений частных и общих погрешностей этих измерений. Для простоты рассмотрения вопроса примем допущение, что расчет общей погрешности изме­рительной аппаратуры может быть произведен по фор­муле

         (3.22)

где би.а — погрешность измерительной аппаратуры; б, — частная погрешность.

Остановимся специально на одной стороне вопроса, недостаточно четко изложенной в [25]. Речь идет о раз­личии понятий общей погрешности измерения и общей погрешности измерительной аппаратуры.


Содержание  Назад  Вперед